X射線衍射儀是目前應用廣泛的研究晶體結構的裝置。X射線衍射儀可分為X射線單晶衍射儀和X射線多晶衍射儀。X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測定物質的晶體結構，織構及應力，精確的進行物相分析，定性分析，定量分析。廣泛應用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教學，材料生產等領域。X射線衍射儀的形式多種多樣，用途各異，但其基本構成很相似。

　　X射線衍射儀是應用面較廣的儀器設備，是對流體、粉末及塊狀晶體等物質的重要無損分析工具，主要應用于樣品的物相定性分析和定量分析、晶體結構分析以及材料的織構分析、晶粒大小、結晶度測定等。作為物質結構表征的不可少的手段，X射線衍射分析在化學、材料學、物理學、地質、環境、納米材料、生物等領域均具有重要的應用。運用X射線衍射儀可以獲得分析對象的粉末X射線衍射圖譜，只要樣品是可以制成粉末的固態樣品或者是能夠加工出小平面的塊狀樣品，都可以用它進行分析測試。

　　X射線衍射儀對樣品有哪些要求：

　　1、粉末樣品要求磨成320目的粒度，大概40微米。如果粒度粗大，那么就會有較低的分辨率，不是太好的峰形以及較低的衍射強度。要對如樣品是否易燃，易潮解，易腐蝕、有毒、易揮發這些物理化學性質加以了解。

　　2、要求粉末樣品在3克左右，即使太少也需5毫克。

　　3、樣品能夠使有機、無機材料、金屬、非金屬粉末。

　　4、要求將如塊狀、板狀、圓拄狀金屬樣品磨成一個平面，面積不能比10mm×10mm小，若面積偏小，則可以將幾塊粘貼在一起。

　　5、對于片狀、圓拄狀樣品來說，擇優取向比較嚴重，有著比較異常的衍射強度。所以要求在測試時，要對響應的方向平面進行合理的選擇。

　　6、對于殘余奧氏體的測量以及金屬樣品的微觀應力（晶格畸變）的測量，要求樣品不可以簡單粗糙，要求制備成金相樣品，并且進行電解拋光或者普通拋光，將表面應變層消除。